X线头影测量介绍：X线头影测量是对头部进行投影测量，用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。X线头影测量正常值：检查中没有发现异常阴影和图样。
X线头影测量临床意义：异常结果研究颅面生长发育X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
牙颌、颅面畸形的诊断分析通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断。